低相位噪聲和低相位抖動是差分晶體振蕩器比較明顯的特性，在產品系統能起到不小的作用，它輸出的不是常規的時鐘信號，而是差分信號，也因此得名，這是一種彼此相位完全相反的輸出方式。制造差分晶振的工藝比較多，而且相對要復雜一些，成本會比普通的晶體振蕩器要高一些，但其作用和性能是其他振蕩器難以替代的，而且損耗也低，能夠分析處理“雙極“信號，一些微弱的小信號也能迅速分清識別。差分振蕩器的頻率高，從50.000MHZ~1000.000MHZ部分廠家可以做到，能滿足客戶高頻率的需求。
理想的振蕩器可以在單一頻率下產生完美的重復信號。然而，電子元件和頻率確定諧振電路中的噪聲過程導致瞬時頻率圍繞其中心值變化或抖動。這導致在任何給定時間確切頻率的不確定性，并且差分輸出的石英晶體振蕩器產生的頻譜在窄頻帶上擴散-大部分能量集中在中心頻率附近。
頻率產生是幾乎所有當今商業，工業和軍事技術中的基本功能。所有振蕩器信號都包含一定程度的噪聲。雖然簡單的振蕩器，例如由電阻器-電容器（RC）或電感器-電容器（LC）諧振器構成的振蕩器，但是對于某些電路而言，許多應用需要額外的穩定性和差分晶體振蕩器提供的較低噪聲。
有許多方法可以測量或表達這種振蕩器噪聲現象，但精密振蕩器最常見的方法是作為相位噪聲。在頻域中測量相位噪聲，繪制為信號幅度與頻率的關系。這是頻譜分析儀上顯示的表示。對于相對有噪聲的信號，如果正確設置了測量帶寬，則可以在頻譜分析儀上直接觀察到相位噪聲。但是，對于大多數晶體振蕩器產生的干凈信號，分析儀的寬帶本地差分晶振的噪聲高于待測源的噪聲，因此無法直接觀察被測單元的噪聲。因此必須采用一些提高測量系統靈敏度的方法。
相位噪聲測量框圖

實現這種靈敏度改進的最常用方法是將一個LVDS晶振與另一個晶振進行比較。這就是大多數商業相位噪聲測量系統的運行方式。將極低噪聲參考振蕩器調整到與被測單元完全相同的頻率。當這兩個信號被饋入相位檢測器并且其相對相位被調整并鎖定在90度偏移時，載波頻率在混頻器中被消除。在對高頻分量進行濾波之后，僅剩下已經混合到基帶頻率的殘余噪聲調制。然后放大該噪聲信號以增加靈敏度。由于通過混合去除了高頻信號。
在1個濾波過程中，可以使用極低帶寬分析儀檢查殘留噪聲信號。
為了標準化LV-PECL晶振相位噪聲測量，結果通常表示為在從中心載波頻率到載波信號功率的給定偏移距離處在1Hz帶寬中測量的邊帶噪聲功率的比率。然后產生如此處所示的圖表。
這些圖表顯示了10MHz和100MHz的精密低噪聲差分晶體振蕩器的性能。當載波偏移大于10kHz時，這兩個差分晶振單元的噪聲基底均優于-170dBc/Hz。這體現了商業產品的最先進性能。

在接近載波的較低偏移頻率處，相位噪聲由晶振的質量確定。100MHz晶體的“Q”比10MHz晶體低得多，因此在低偏移時噪聲更高。

基于精密差分晶體振蕩器已被證明可提供任何商用設備的最佳相位噪聲性能。由于石英固有的頻率穩定性，即使是簡單的差分石英晶振也能提供非常好的相位噪聲性能。
常見的差分輸出大家也知道，是LVDS，LV-PECL和HCSL這3種，不同的輸出起到的作用也不一樣，工程和采購在選購時，最好要先確認好頻率，電壓及輸出，否則可能會引起誤差，停振等不良反應。生產廠家采購差分型貼片晶振最主要的原因，是為了消除已產生的共模噪聲，降低噪音，讓系統性能變得更高更優越。

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